В приборе доступны любые спектральные линии в диапазоне от 185 до 930 нм, включая линии щелочных (лития, натрия, калия, рубидия) и щелочноземельных элементов (берилия, магния, кальция, стронция, бария). Спектрометр имеет весьма широкий спектральный диапазон. Спектральное разрешение же, благодаря уникальной методике настройки спектрографа, вплотную приближается к предельному теоретически возможному значению (ограниченному габаритами оптических блоков). ЛИЭС предназначен для экспрессного спектрального анализа токонепроводящих образцов, анализа элементного состава твердых монолитов (стёкол, керамик, пластмасс, металлов, сплавов, гранитов и т.п.), различных прессованных порошков (включая почвы, породы, геологические образцы и т.п.). Спектрометр может быть применен для микроанализа неоднородных образцов (как по поверхности, так и по глубине), для анализа микро образцов, образцов сложной формы. ЛИЭС может применяться в черной, цветной, порошковой металлургии; металловедении; горнодобывающей, горно-обогатительной и горно-перерабатывающей промышленности; геологии и геологоразведке; производстве строительных материалов; производстве особо чистых материалов; в экологии и охране окружающей среды; в сельском хозяйстве и пищевой промышленности; в криминалистических, медицинских и фармакологических лабораториях и др. Основные блоки спектрометра обладают рядом оригинальных особенностей.

Особенности источника возбуждения спектров проистекают из принципа его действия, который заключается в следующем. Анализируемый образец располагается на подвижном трех координатном столике. На поверхность образца в выбранную оператором точку фокусируется лазерное излучение. Воздействие мощного лазерного импульса на поверхность образца приводит к появлению над ней факела из анализируемого вещества (лазерная абляция). В спектрометре ЛИЭС анализируемое вещество факела, поднимаясь над поверхностью образца, попадает в аналитический промежуток. Искровым генератором на электродах создается разность потенциалов и формируется искровой разряд в атмосфере буферного газа (воздух или аргон) и продуктов абляции анализируемого образца. В электрическом разряде происходит возбуждение атомов и ионов анализируемого вещества, эмиссионный спектр которых далее регистрируется системой регистрации спектрографа.

• Спектрограф 2S36501633:
  • спектрограф 2S36501633 – сдвоенный, это наиболее рациональная конструкция для широкодиапазонных светосильных спектрографов;
  • применяются высококачественные голограммные вогнутые дифракционные решетки;
  • технология изготовления спектрографов позволяет достичь практически предельных для данного типа спектральных приборов значений спектрального разрешения (от 0.007 нм в диапазоне 185-330 нм);
  • исключительно высокая температурная стабильность настройки спектрографов.
• Система регистрации спектрометра оцифровывает аналоговые сигналы с линейных ПЗС-детекторов с разрешением 16 бит и сохраняет полученные данные во внутренней памяти:
  • осуществляет предварительную обработку оцифрованного сигнала;
  • в спектрометре ЛИЭС применяется система регистрации, обслуживающая 24 линейных ПЗС детектора;
  • сигналы со всех линейных ПЗС-детекторов обрабатываются параллельно и одновременно, что в дальнейшем позволяет использовать корреляционные методы обработки сигнала;
  • внутренняя схемотехника плат системы регистрации выполнена с учетом жестких условий эксплуатации, таких как функционирование рядом с источниками сильных электромагнитных помех (генераторы искровых, дуговых, ВЧ и СВЧ разрядов) или функционирование в вакууме до 0.001 мБар (т.е. в условиях плохого теплообмена).
• На спектрометр ЛИЭС устанавливается новейшее программное обеспечение «PPM Pro», совместимое с WindowsXP/7/10:
  • обеспечивает управление источником возбуждения спектров и системой регистрации;
  • управляющее программное обеспечение поддерживает три режима доступа для работы операторов с разным уровнем квалификации, от проведения повседневных измерений (для начинающих лаборантов) до возможностей создания новых и корректировок текущих аналитических программ измерений (для специалистов с большим опытом в области спектрального анализа);
  • обеспечивает сохранение и графическое представление спектров с удобной навигацией и идентификацией спектральных линий и т.д.;
  • содержит обширную базу спектральных линий для их идентификации в спектре и качественного анализа;
  • позволяет производить индивидуальный учет величины и поведения спектрального фона для каждой аналитической линии, позволяющий определять аналитический сигнал без учета паразитного излучения плазмы, увеличивая тем самым чувствительность и точность измерений;
  • предусматривает применение для каждого определяемого элемента нескольких аналитических линий, что автоматически расширяет динамический диапазон измерений вверх по концентрациям в сотни и тысячи раз, обеспечивая практическую неограниченность определения максимальных концентраций примесных элементов;
  • предусматривает одно- и двухточечную рекалибровку градуировочных характеристик.

Пределы обнаружения элементного спектрального анализа твердых веществ на спектрометре ЛИЭС по критерию «3σ» для большинства элементов лежат в диапазоне от менее 10-5% (0.1 г/т) до 10-4% (1 г/т). У метода имеются резервы дальнейшего снижения (улучшения) пределов обнаружения, как минимум, в 10 раз. Разработки в этом направлении сейчас активно ведутся.

Диапазон измерения концентраций в различных пробах от (10-5 – 10-4) % до десятков % при типичной относительной случайной погрешности (в зависимости от условий измерения) 5 – 15 %.

К настоящему времени методом лазерно-искрового спектрального анализа проведено множество измерений самых различных реальных образцов: токсичных элементов и тяжелых металлов в объектах окружающей среды (включая аэрозоли в воздухе), пищевом сырье и продуктах питания, в фармакологических препаратах, а также редкоземельных и драгоценных металлов в соответствующих образцах. Ниже представлена сводная таблица, в которой представлены минимальные значения содержаний, которые уверенно (т.е. с погрешностью 5 – 15 %) определялись в реальных многоэлементных образцах (не путать с пределами обнаружения):